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SX-L3*流量塵埃粒子計數器

更新時間：2025-09-12

訪問量：3272

簡要描述：
SX-L3*流量塵埃粒子計數器：大流量半導體激光塵埃粒子計數器是快速、正確檢測潔淨環境的理想工具。特別對於高潔淨度環境的檢測更具有*性，可大大提高檢測速度和正確度。該產品是由本廠與南京理工大學聯合開發研製的新一代粒子計數器，

             SX-L310 大流量塵埃粒子計數器 

    SX-L3*流量塵埃粒子計數器：大流量半導體(ti) 激光塵埃粒子計數器是快速、正確檢測潔淨環境的理想工具。特別對於(yu) 高潔淨度環境的檢測更具有*性，可大大提高檢測速度和正確度。該產(chan) 品是由本廠與(yu) 南京理工大學聯合開發研製的新一代粒子計數器，

SX-L3*流量塵埃粒子計數器技術指標

符合並高於(yu) JJG547-88塵埃粒子計數器檢定規程要求，也是國內(nei) 對大流量塵埃粒子計數器進行CMC認證： 

  1. 采樣量：28.3L/min
  2.  2、光源：半導體激光 
  3. 3、粒徑靈敏度：0.3um
  4.  4、粒徑範圍：0.3μm～10μm 
  5. 5、粒徑分布正確度：≤±25%
  6.  6、粒徑離散度：≤±30% 
  7. 7、測量重複性：≤±10% 
  8. 8、采樣周期可從1—99秒任意設定
  9.  9、大屏幕液晶顯示，自動判別淨化級別，可數據儲存，可與電腦連接通訊。 10、 外形尺寸：450×270×150（寬×深×高）mm 
  10. 11、 重量：11.5kg 
  11. 12、 供電AC220V±5% 50HZ

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