CLJ-BII（J）全半導體激光塵埃粒子計數器

CLJ-BII(J)全半導體(ti) 激光塵埃粒子計數器

儀(yi) 器簡介：　

　  該儀(yi) 器的技術指標滿足國家計量總局頒布的JJG547-88檢定規程的要求，整機功能采用微電腦控製處理，可直接打印檢測結果。具有功能多、測量精度高、速度快、便於(yu) 攜帶和操作簡單等特點。儀(yi) 器一次采樣可同時測得多種粒徑的塵埃粒子數，並能選擇觀察其中某一粒徑粒子的數目及其變化情況，對於(yu) 研究、檢測和評價(jia) 各種潔淨環境都十分方便。

　　該係列產(chan) 品已被廣泛應用於(yu) 微電子、醫院、製藥、醫療器械、生化製品、食品衛生、精細化工、精密機械和航天等生產(chan) 和科研部門，是製藥企業(ye) 及其監督管理部門貫徹GMP規範的*儀(yi) 器。該係列儀(yi) 器性能設計先進、質量穩定可靠，深受用戶歡迎。經國內(nei) 貿易部有關(guan) 部門的市場調查和，先後獲《質量信得過產(chan) 品》、《消費者信得過產(chan) 品》、《質量監督合格產(chan) 品》等榮譽證書(shu) 。

技術參數:

型號：CLJ-BⅡ(J)

采樣流量：2.83L/min

檢測範圍：100級～30萬(wan) 級

自淨時間：≤10min

連續工作時間：8h

打印功能：內(nei) 置打印機

工作環境：溫度10~35℃，相對濕度≤75%

電源：220V±10%，50Hz±2Hz

粒徑通道：0.3，0.5，1，3，5，10（um）六通道

采樣周期：1min~10min

電源及壽命：激光光源>30000h

功耗：35W

外形尺寸：28X11.5X33(cm)

重量：7Kg