3330型光學顆粒物粒徑譜儀

3330型光學顆粒物粒徑譜儀(yi)

儀(yi) 器簡介：
3330型光學顆粒物粒徑譜儀(yi) 簡單輕便，能夠對顆粒物濃度和粒徑譜分布進行快速和準確的測量。基於(yu) TSI40年氣溶膠儀(yi) 器設計的經驗，本款產(chan) 品使用120度光散射角收集散射光強度和精密的電子處理係統，從(cong) 而得到高質量和高精度的數據。同時，TSI工廠嚴(yan) 格的標定標準也確保儀(yi) 器的精確性。3330不僅(jin) 單獨使用，而且還放入TSI的外場環境箱中在野外使用。


技術參數：

測量原則 

120°光散射和濾膜采樣

濃度限製

高3,000個(ge) / cm³ （3,000,000個(ge) /L）

質量濃度 

0.001-275,000 mg/m³

顆粒物粒徑

檢測粒徑範圍               0.3-10 mm 

粒徑分辨率                 0.5mm時5%（符合ISO 21501-01/04）

粒徑通道                   多16通道，用戶可調

主要特點：

l  0.5微米時粒徑分辨率小於(yu) 5%

l  粒徑通道用戶可調

l  檢測粒徑範圍：0.3-10微米，多16通道

l  顆粒物粒徑感應範圍：0.5至25 mm

l  檢測濃度範圍：0-3000 個(ge)  /cm³

l  彩色觸摸屏，直觀的用戶界麵

l  *ISO 21501-01/04要求

l  輸入折射率和密度同時顯示顆粒物數濃度和質量濃度

l  收集的采樣膜可進行稱重測量和化學分析

l  電池電量可供20小時的操作

l  多可存儲(chu) 30000個(ge) 數據

l  記錄每個(ge) 樣品的溫度和壓力