JB4040型 β、γ表麵汙染檢測儀

JB4040型 β、γ表麵汙染檢測儀(yi)

簡介

JB4040型 β、γ表麵汙染檢測儀(yi) ，適用於(yu) 低水平β、γ輻射表麵汙染檢測，同時也適用與(yu) X、γ輻射劑量率的監測。儀(yi) 器采用進口蓋革探測器，具有較高的探測效率；是環境實驗室、核醫學、分子生物學、放射化學、核原料運輸、儲(chu) 存和商檢等領域進行α，β輻射表麵汙染檢測或X，γ輻射防護監測的理想儀(yi) 器，該儀(yi) 器采用單片機控製，LCD液晶顯示，讀數清晰、操作方便。

特點

◆GM探測器陣列，探測效率高

◆便攜式設計，重量輕

◆單片機控製，軟件功能強

◆LCD液晶顯示，會(hui) 話式操作界麵

◆計數率顯示CPM、CPS、μSv/h

◆電池失效報警

主要技術指標

◆計數範圍：1～106

◆探測器麵積：25cm2

◆靈 敏 度：≥500 CPM/μSv/h

◆劑量率範圍：0.01～200.00µSv/h

◆儀(yi) 器本底：每分鍾計數≤130 CPM

◆相對基本誤差：≤20%

◆供電電源：2節1.5v普通5號電池，整機電流≤50mA

◆溫度範圍：-10℃～45℃

◆濕度範圍：相對濕度≤90%（40℃）

◆尺寸重量：0.64kg；23×13×4.5（cm）

ce�'e�%��p size:12.0000pt; font-family:'新宋體(ti) '; " >◆報 警 閾：250、500、2500、10000（nGy/h）

◆讀數顯示：nGy/h