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品牌 | 何亦 | 產品英文名稱 | NaI-Calibration |
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測量物質 | 液體 | 儀器類型 | 實驗室 |
靈敏度 | ·積分控製精度可以人為調節,軟件默認值為3% | 測量範圍 | 刻度的能量範圍45keV到7MeV |
測量類型 | 無源效率刻度 | 探測器類型 | 高純鍺 |
儀器種類 | 能譜儀 | 供貨周期 | 5天 |
NaI閃爍探測器無源效率刻度軟件
一、NaI閃爍探測器無源效率刻度軟件產(chan) 品簡介
NaI閃爍探測器無源效率刻度軟件刻度方法主要有兩(liang) 種,一是相對測量方法,二是無源效率刻度方法。在退役核設施放射性測量、放射性工作場所測量、核事故應急中汙染物放射性快速測量、人體(ti) 器官放射性測量、生物樣品放射性快速測量、放射性廢物非破壞性測量等領域,很難采用借助標準源的相對測量方法獲得效率刻度因子。
無源效率刻度軟件NaI-Calibration是用於(yu) NaI γ射線探測器無源效率刻度的新產(chan) 品,它采用數值方法計算γ光子的輸運過程,在此基礎上得到效率刻度因子,幾何和材料建模能力強大,計算精度高,速度快,界麵簡單,使用方便。由於(yu) 是采用理論計算方法,因此,對於(yu) 複雜幾何形狀和成分的放射源都快速地獲得效率刻度曲線。NaI-Calibration克服了相對測量方法的缺點,同時避免了標準源的使用和管理,較大地拓展了NaI探測器的適用範圍,提高了NaI探測器的定量分析能力。
NaI-Calibration是在解決(jue) 兩(liang) 個(ge) 關(guan) 鍵技術的基礎上研製成功的NaI無源效率刻度軟件,一是光子在探測器中的能量沉積計算,二是探測器中產(chan) 光效率和光收集效率的表征方法。光子在探測器中的能量沉積部分具備一般的無源效率刻度軟件的優(you) 點,即可視化建模功能,對於(yu) 任意組分材料和任意屏蔽物,精密化計算能量沉積功能;探測器表征方麵通過實驗測量得到點源在不同位置的能量沉積,然後反演出探測器的產(chan) 光效率和收集效率隨能量變化曲線。NaI-Calibration經過了不同形狀、不同活度的體(ti) 源效率測量的考核。
二、NaI閃爍探測器無源效率刻度軟件性能
· 采用功能強大的CSG建模,實現對任意形狀的體(ti) 源的三維可視化快速建模;
· 放射源到探測器的距離為(wei) 0到無窮遠;
· 刻度的能量範圍45keV到7MeV;
· 積分控製精度人為(wei) 調節,軟件默認值為(wei) 3%;
· 效率刻度曲線計算時間:對於(yu) 形狀對稱的體(ti) 源(如環境樣品源),計算時間小於(yu) 20秒;
· 對於(yu) 形狀非對稱的體(ti) 源,計算時間一般少於(yu) 10分鍾;
· 軟件輸出為(wei) *.TXT格式文件;
· 中、英文界麵。
三、本公司的服務
定製軟件界麵;
定製報告格式;
免費培訓和技術谘詢。
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