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NaI閃爍探測器無源效率刻度軟件 輻射測量儀

更新時間:2025-09-14

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簡要描述:
NaI閃爍探測器無源效率刻度軟件刻度方法主要有兩種,一是相對測量方法,二是無源效率刻度方法。在退役核設施放射性測量、放射性工作場所測量、核事故應急中汙染物放射性快速測量、人體器官放射性測量、生物樣品放射性快速測量、放射性廢物非破壞性測量等領域,很難采用借助標準源的相對測量方法獲得效率刻度因子。
品牌何亦產品英文名稱NaI-Calibration
測量物質液體 儀器類型 實驗室
靈敏度 ·積分控製精度可以人為調節,軟件默認值為3%測量範圍刻度的能量範圍45keV到7MeV
測量類型 無源效率刻度探測器類型 高純鍺
儀器種類能譜儀供貨周期5天

NaI閃爍探測器無源效率刻度軟件

NaI閃爍探測器無源效率刻度軟件產(chan) 品簡介

       NaI閃爍探測器無源效率刻度軟件刻度方法主要有兩(liang) 種一是相對測量方法二是無源效率刻度方法在退役核設施放射性測量放射性工作場所測量核事故應急中汙染物放射性快速測量人體(ti) 器官放射性測量生物樣品放射性快速測量放射性廢物非破壞性測量等領域很難采用借助標準源的相對測量方法獲得效率刻度因子

       無源效率刻度軟件NaI-Calibration是用於(yu) NaI γ射線探測器無源效率刻度的新產(chan) 品它采用數值方法計算γ光子的輸運過程在此基礎上得到效率刻度因子幾何和材料建模能力強大計算精度高速度快界麵簡單使用方便由於(yu) 是采用理論計算方法因此對於(yu) 複雜幾何形狀和成分的放射源都快速地獲得效率刻度曲線。NaI-Calibration克服了相對測量方法的缺點同時避免了標準源的使用和管理較大地拓展了NaI探測器的適用範圍提高了NaI探測器的定量分析能力

       NaI-Calibration是在解決(jue) 兩(liang) 個(ge) 關(guan) 鍵技術的基礎上研製成功的NaI無源效率刻度軟件一是光子在探測器中的能量沉積計算二是探測器中產(chan) 光效率和光收集效率的表征方法光子在探測器中的能量沉積部分具備一般的無源效率刻度軟件的優(you) 點即可視化建模功能對於(yu) 任意組分材料和任意屏蔽物精密化計算能量沉積功能探測器表征方麵通過實驗測量得到點源在不同位置的能量沉積然後反演出探測器的產(chan) 光效率和收集效率隨能量變化曲線。NaI-Calibration經過了不同形狀不同活度的體(ti) 源效率測量的考核

NaI閃爍探測器無源效率刻度軟件性能

· 采用功能強大的CSG建模實現對任意形狀的體(ti) 源的三維可視化快速建模

·     放射源到探測器的距離為(wei) 0到無窮遠

· 刻度的能量範圍45keV7MeV;

· 積分控製精度人為(wei) 調節軟件默認值為(wei) 3%;

· 效率刻度曲線計算時間對於(yu) 形狀對稱的體(ti) 源如環境樣品源),計算時間小於(yu) 20

· 對於(yu) 形狀非對稱的體(ti) 源計算時間一般少於(yu) 10分鍾

· 軟件輸出為(wei) *.TXT格式文件

· 英文界麵

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