BRKD-02熱釋光測量係統 輻射測量儀

                BRKD-02熱釋光測量係統

BRKD-02熱釋光測量係統簡介：

    采用電阻加熱方式，可測讀國產、進口的各類型片狀、杆狀、粉末狀的探測元件。讀出器由串口連接PC，Winrems操作軟件提供先進完善的劑量算法、發光曲線分析、加熱方式設定、時間溫度控製、維護和保健物理記錄係統。儀器隻有一個操作按鈕，三個指示燈，操作簡單。

    廣泛應用於輻射防護、放射醫學、輻射研究、大劑量測量，尤其適用於科研及中小規模的劑量測量，如輻照食品測試、放射性年代測定等。

功能特點

• 熱釋光劑量讀出準確，儀器靈敏度自動校準，高壓可鎖定；
• 可自動扣除儀器本底或探測器本底；
• 內置一套測試程序，適應不同的探測器和應用，測試程序可修改、存儲；
• 儀器能單機使用、並存貯1000條測量數據；
• 儀器有打印機接口，可實時打印測量結果；
• 儀器有條碼掃描儀接口；
• 可連接計算機，通過上位機軟件實現個人劑量管理；
• 加熱盤可更換，便於不同形狀、規格的熱釋光探測器的測量，也可用於粉狀探測器的測量；
• 技術雙抽屜結構，拉出抽屜很方便清洗隔熱玻璃；很方便放置衰減濾光片，擴大劑量測量範圍；
• 7吋觸摸屏，全中文彩色顯示，便於用戶操作、運行和維護。

性能指標   

具備與單位實時上傳真實數據功能

光測量係統

· 劑量線性測量範圍 LiF:Mg,Ti: 10^-5Gy ～ 1Gy

LiF:Mg,Cu,P: 10^-7Gy ～ 10Gy

· 動態測量範圍 大於(yu) 7個(ge) 數量級，特別是加衰減濾光片後更大

· 測量項目 Ｘ、γ、β、中子

· 測讀時間 40秒測讀一個(ge) 探測器樣品(特別要求可更快)

· 測量係統穩定性 ≤0.2%

· 靈敏度重複性的變化係數 ≤0.1%±0.05%/℃

· 抽屜漏光量 ≤內(nei) 部光源量的0.1%

· 本底值 ≤300

· 高壓 0～-1500V

加熱係統

· 加熱溫度範圍 室溫～400℃

· 加熱溫度偏差 ≤1%

· 加熱溫度精度 ≤±2℃

· 加熱時間 0～500s

· 加熱時間重複性 ≤0.1%

· 加熱速率 1～40℃·s^-1

軟件係統

· 用戶圖形界麵

· 計算機測量參數獲取，加熱功能顯示，數據獲取、存儲(chu) 、回放、報表

尺寸重量

· 外部尺寸（W×H×D） 280mm×320mm×420mm

· 重量 約18kg

使用條件

· 工作環境 室內(nei)

· 儲(chu) 存溫度 -10～50℃

· 工作溫度 10～40℃

· 電    源 交流220V±10%，50Hz

· 大功耗 100W

· 測量時無衝(chong) 擊和振動（相對穩定）

· 彩顯屏應避免強光照射

· 避免強電、磁幹擾