PAM170表麵汙染儀

PAM170表麵汙染儀(yi)

PAM170表麵汙染儀(yi) 儀(yi) 器簡介

    主要用於(yu) α、β、γ表麵汙染的測量，廣泛用於(yu) 因可能被汙染而必須監測的場所，例如：核電廠、再加工工廠、退役或被拆除的核設施、放射性廢物處理廠、醫院、研究所及各種環境中的應用，可對牆壁、地板、桌子、手、腳、衣服或其他物品進行表麵汙染監測。壁掛式PAM表麵汙染儀(yi) 可作為(wei) 出口處手部沾汙監測儀(yi) 。

表麵汙染儀(yi) 功能特點

  無氣體(ti) 探測器，鉑片可快速替換

  體(ti) 積小，重量輕，抗震設計；

  操作簡單，電池壽命長；

  靈敏度高，響應均勻；

  兩(liang) 個(ge) 可調報警閾值；

  易去汙。

表麵汙染儀(yi) 技術參數

  檢測器類型：塑料閃爍體(ti) ；ZnS(Ag)；

  有效麵積：170 cm2；

  窗口：含鋁聚酯薄膜箔；

  探測上限：高達105cps；

  β能量：大能量150kev～2.5Mev；                         

  電池：2節標準C號堿性電池；

  電池壽命：約150小時（不開背光燈）；       

  重量：約1.4 kg；

  溫度範圍：-10～ 40℃；                           

  相對濕度：大90%（無凝結）；

  單位：cps，cps/cm2，Bq，Bq/cm2；

  探測效率：52% 241Am；17% 14C；48% 204Tl；55% 90Sr 90Y；45% 137Cs。

表麵汙染儀(yi) 可選附件

  探測器塑料防護罩；                                   

  服務軟件(PC/基於(yu) Windows的)；

  校準組件；

  便攜箱；

  PAM作為(wei) 出口探測器時的壁裝式支架；           

  PAM配套肩帶。

可選型號如下

  PAM-170A—測量一個(ge) 通道的α；

  PAM-170B—測量一個(ge) 通道的α β；對γ靈敏度低；

  PAM-170C—測量兩(liang) 個(ge) 通道的α/β；對γ靈敏度低；

  PAM-170D—測量一個(ge) 通道的α β γ，對γ靈敏度高；

  PAM-170E—測量兩(liang) 個(ge) 通道的α/β γ，對γ靈敏度高。

  探測器使用不同厚度的大麵積塑料閃爍體(ti) 耦合到光電倍增管；窗口由不透光的箔片和金屬架覆蓋。

  已優(you) 化反射鏡的幾何形狀和表麵確保良好的均勻性和效率。

  輸出脈衝(chong) 自動由內(nei) 部蜂鳴器顯示，可通過相關(guan) 按鍵開啟/關(guan) 閉。

  可通過USB連接器串行連接到外部計算機。

  儀(yi) 器表麵容易去汙。

適用標準

  SN EN 60325:2005 輻射防護儀(yi) —α和α/β(β能量大於(yu) 60keV)汙染測量儀(yi) 和監測儀(yi)

  SN EN 61326-1:2006 用於(yu) 測量，控製和研究電氣兼容性要求的電子設備