伽馬譜儀的計數率由其每個部件所限製（從探測器，前放，放大器，ADC到MCA）。現在的電子技術，可以輕鬆達到幾十KCPS的計數率。

 

　　但是，在高計數率情況下，會出現很多非正常的情況。例如，分辨率變差，過長的采樣時間，峰麵積和本底的不確定性增加，統計誤差變大，甚至過載或者飽和而死機。

 

　　總之，在高計數率下，伽馬譜儀將變得不那麽靠譜。下麵討論一下每個部件對係統整體計數率的限製，以及這些限製能否被克服？綜合計數率，分辨率，經濟性等條件配置合適的係統。

 

　　係統計數率的要求是什麽？

 

　　一般來說，高計數率是由高放射性樣品引起的，樣品放射性水平越高，計數率越高。

 

　　關於是否要選擇特殊的器件來提高計數率？我們首先要關心的是測量對象是什麽？

 

　　通常我們所說的高計數情況，是指“高輸入計數率”。其與“高通過率”並不一樣。提高“通過率”，必然不可避免地降低係統分辨率。有時，係統分辨率對於測量精度更為重要，因而提高“通過率”並不是Z佳方案。在許多高計數率情況下，“低通過率”係統可以通過延長測量時間來達到所需精度，此時分辨率是好的。

 

　　在測量時，還可以通過稀釋樣品或者增加準直器或衰減器來減少進入探測器的計數率。或者選用更小的探測器（效率低的，但是價格更便宜）來獲得高質量的測量數據和係統分辨率。

 

　　如果測量係統需要在適時間內處理大量的數據，則需要選用特殊的器件來提高“通過率”。